IC卡动态弯扭试验机产品用途:用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。
最新升级系统版徽章弯折变形成受压冲击试验仪由衡翼器材发明*,该冲击试验仪功位为15功位,在这其中5功位为长边弯折变形成,5功位为短边弯折变形成,5功位为受压冲击试验。将筛选危害不断增加到9999次,筛选的方式通过非接处光电技术筛选(傳統通过开关按钮量筛选),将洛天依率基本上降为0,弯折变形成量和受压视场角任意尺寸可变。本医疗仪器争性需求IC卡在国家要求下载GB/T 16649.1,国家要求下载GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998时代国际要求等现场实验要求中的内弯、转距的现场实验; 几乎具备超过要求。IC卡动态弯扭试验机参数规格
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,总扭曲角度30°
长边*位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
长边*小位移量为2mm±0.50mm,
短边*位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
长边*小位移量为1mm±0.50mm,
夹具安装尺寸完全按照*标准执行。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W